1月16日上午，应中国科学院合肥物质科学研究院固体物理研究所青联会和微纳技术与器件研究室邀请，中科院光电研究所研究员张文喜访问固体所，并作了题为《全视场外差干涉测量技术》的学术报告。报告由研究员段国韬主持。 

　　报告中，张文喜简要介绍了中科院计算光学成像技术重点实验室，详细介绍了全视场外差干涉测量技术的背景。全视场外差干涉测量技术采用赫兹级移频技术，利用面阵探测器代替点探测器，实现面目标几何量的高精度测量，极大拓展了外差测量的应用领域。之后，张文喜结合他近期关于外差干涉测量的工作，如研制出多款高性能低差频移频器，可用于光滑表面测量、形貌测量等，阐述了其中的关键技术与应用领域。报告结束后，与会师生就感兴趣的问题与张文喜进行了热烈的交流与讨论。 

　　张文喜，中科院光电院研究员，中国科学院大学教授。长期从事干涉测量研究和光场成像研究。主持国家863、中科院知识创新工程重大、中科院创新方向性等十余项国家级项目。