10月8日至11日，由中国科学院分离分析重点实验室承办的“第六届中国二次离子质谱会议”（The 6th Chinese National Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry，SIMS）在中科院大连化学物理研究所举办，研究员李海洋担任大会主席。　　上届国际SIMS大会主席、英国国家物理实验室教授Ian Gilmore，美国分析化学杂志(Analytical Chemistry)副主编、瑞典哥德堡大学教授Andrew Ewing，美国华盛顿大学教授David Castner等110余名国内外SIMS研究人员出席了会议。Ian Gilmore、Andrew Ewing等SIMS领域国际知名专家学者为本次会议作了精彩的特邀报告。　　会上，与会专家针对SIMS仪器研发、理论发展及其在不同领域的开拓应用进行了精彩的汇报，引发了参会人员的热烈讨论。大连化物所快速分离与检测研究组（102组）在会上交流了其承担的国家重大科研仪器设备研制专项“同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器高分辨飞行时间质量分析器”的研制进展。　　会前，为普及SIMS基础理论知识，会议学术委员会和组委会特邀质谱、SIMS领域专家朱梓华、杨尉、李海洋、陈焕文等为参会的青年科研人员举行了为期一天的SIMS基础、仪器和分析应用的会前课程短训。　　会后，与会专家参观了102组实验室和该所创新园实验室，并对同位素丰度高精度专用TOF-SIMS项目研发的飞行时间高分辨质量分析器的运行进行了考察。在102组，大家就大连化物所自主研发的光电离源飞行时间质谱仪在环境分析、生命分析领域的现场应用，离子迁移谱仪器在医疗诊断、爆炸物快速检测等领域的科学研究等进行了现场交流；对该所针对国家安全、生态环境和生命健康方面研制的快速分析仪器的自主创新和产业化进行了高度评价。　　本次会议为我国二次离子质谱界提供了学术研讨、技术交流与合作的平台，展示了最新的研究成果，有力地推动了我国二次离子质谱研究的发展。 报告会现场