首页 > 一线动态

“表面分析技术光电子能谱仪应用研讨会”在苏州纳米所召开

2016-09-14 苏州纳米技术与纳米仿生研究所
【字体:

语音播报

  9月12日,由中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所纳米真空互联实验站主办的“表面分析技术光电子能谱仪应用研讨会”召开。来自胜科纳米(苏州)、苏州晶湛半导体、宝钢研究院分析测试中心、大连理工、上海师范大学以及所内师生五十余人参加此次会议,参会人员就光电子能谱的最新发展以及应用进行了深入探讨和交流。

  会议邀请了清华大学测试中心教授李展平、台湾中央研究院教授薛景中、中科院苏州纳米所教授丁孙安等作了精彩的报告。

  光电子能谱仪被广泛应用在材料应用中,如有机发光体(OLED)、太阳能电池、锂电池、燃料电池、石墨稀、食品包装安全等项目上, 都需要表面分析的手段来改善研发,增进其性能与安全性。其中光电子能谱(XPS)和紫外光光电子能谱(UPS)分别能提供材料上的关键信息。在XPS的分析能力上, 高空间分办(<10um)能力在现今研究方向非常重要, 而在配合上团簇离子源的同时, 更可以以无损的离子溅射去达到多层有机结构材料的深度分析, 把表面分析的分析可能往更广大的方向推进。除此之外, 配备上样品传输管可以让样品在大气以外的环境传递, 保护如锂电池等的气敏样品在分析之前已经改质的问题。

  参会的各位师生就XPS的应用以及实际操作中遇到的技术问题与专家们展开研讨,会后,专家们参观了纳米真空互联站模拟装置。

 

研讨会现场

打印 责任编辑:陈丹

扫一扫在手机打开当前页

© 1996 - 中国科学院 版权所有 京ICP备05002857号-1 京公网安备110402500047号 网站标识码bm48000002

地址:北京市西城区三里河路52号 邮编:100864

电话: 86 10 68597114(总机) 86 10 68597289(总值班室)