5月9日，美国马里兰大学教授Michael Pecht来中国科学院微电子研究所作学术交流，并作了题为《电子产品考核的进阶方法》的报告。微电子所科研人员、研究生共50余人参加了交流活动。
　　Michael Pecht在报告中简要介绍了美国马里兰大学及计算机辅助产品寿命周期工程中心的基本情况，分享了其课题组在微电子可靠性考核与预测方面的最新研究进展。他回顾了当前普遍应用的电子产品考核方法，讨论了现有方法在有效性、时效性等方面的问题与不足，提出了一种新型的融合实验数据与失效物理为基础的可靠性预测方法。该方法根据电子产品随着时间从正常工作状态开始退化或发生偏移的过程来评估和预测产品的未来可靠度。会后，Michael Pecht与微电子所相关科研人员进行了座谈，解答了微电子可靠性方面的疑问，并展开了充分讨论。
　　Michael Pecht现任美国马里兰大学计算机辅助产品寿命周期工程中心主任，马里兰大学机械工程系、应用数学系的首席教授。2008年获产品可靠性方面的最高荣誉——IEEE可靠性协会的终身成就奖。

交流会现场