3月8日，中国科学院宁波材料技术与工程研究所测试中心测试论坛第二期开讲，中国科技大学教授张庶元应公共技术服务中心的邀请，来宁波材料所作了题为“原子分辨TEM和STEM的表征”的学术报告。

　　张庶元介绍了TEM/STEM表征的主要模式，对比说明了TEM高分辨像和高角环形暗场像（HADDF）的优缺点，并介绍了电子能量损失谱（EELS）技术的原理和应用。围绕原子分辨球差校正电镜，张庶元分别介绍了轻原子探测技术-环形明场像（ABF）、原子分辨的EELS、原子分辨的EDS分析。并结合原子分辨STEM的表征和研究大量详实测试案例，分别介绍了中科大近年来类石墨烯、钙钛矿等材料的STEM表征研究工作。

　　张庶元早在上世纪80年底赴美留学，师从国际电子显微学大师J.M.Cowley，从事材料显微结构的表征、特别是高分辨电子显微结构表征的研究。他长期担任安徽省电子显微学会秘书长，是多届中国电子显微学会理事，第八届常务理事。30多年来，张庶元始终在TEM实验室一线从事材料的显微结构研究，具有丰富的材料透射电镜表征经验和深厚的理论功底。作为一线技术支撑人员，他拍摄的TEM像出现在无数科研工作者的论文中，他自己也笑言是一直在做“嫁衣裳”。但正是他这种甘愿为科研工作做嫁衣的无私精神赢得了科研人员的尊重。

　　报告会结束时，公共技术服务中心李勇主任为张庶元颁发了聘书，聘请张庶元为测试中心“技术顾问”。

报告会现场