为服务国家和地方的产业升级转型，提升微纳器件的研制水平，促进电子产品技术开发，提高微纳器件失效分析技术人员的专业素质和技术水平，建立失效分析技术人员学习交流平台，9月16日至18日，中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所纳米技术人才实训基地联合滨松—复旦大学EMMI联合实验室、中科院科技服务网络苏州中心和中国电子学会电子材料学分会三家单位在苏州纳米所举办了“2015年微纳器件失效分析技术应用培训”。
　　失效分析是一门新兴发展的学科，在产品质量提高、技术改进、产品修复及失效事故仲裁等方面都具有很强的实际意义。微电子技术是信息社会发展的基石，集成电路和微纳分立器件对各种传统产业具有强有力的带动作用，对国民经济发展的促进作用明显。随着国家对芯片和纳米技术产业支持力度的上升，与之相对应的失效分析显得越来越重要。
　　本次培训邀请了多名业界著名的技术专家前来传授微纳器件失效的原因、分析手段、失效分析设备应用以及案例剖析，并具体在微纳器件失效分析导论、TEM在失效分析中的应用及案例分析、FIB在失效分析中的应用及案例分析、FTIR在失效分析中的应用和SEM在失效分析中的应用及案例分析几个方面展开讲解。
　　培训吸引了三星电子(苏州)半导体有限公司、楼氏电子（苏州）有限公司、苏州晶方半导体科技股份有限公司、海思半导体、中国科技大学、华中科技大学等多家行业大型公司和知名高校共50余人前来参与。培训过程中专家深入浅出，从理论和实际两个方面为学员讲授了失效分析技术和相关应用场景，培训效果明显，获得了与会学员的一致好评。
 
培训现场