8月26日至27日，美国罗彻斯特大学Jonathan D. Ellis到中国科学院长春光学精密机械与物理研究所访问交流，并作学术报告。 

　　26日上午，Jonathan作了题为Differential Wavefront Sensing and Dynamic Phase Compensation for Piezo Stage Calibration的学术报告，主要介绍了动态计量在测量特定目标及信号处理中的重要作用，同时还介绍了一种运用微分波前传感方式动态测量压电的方法，以及在信号处理中为减少在非匀速运动中造成的误差而补偿动态相位的处理办法。来自应用光学国家重点实验室、无人飞行器研究部、超精密光学工程研究中心（超精密中心）、光学技术研究中心（光学中心）以及光电探测研究部的30余名科研人员及研究生参加了此次报告会。报告深入浅出，研究领域也与超精密中心、光学中心的部分研究方向比较契合，报告结束后，科研人员与Jonathan在精密工程、精密系统设计等领域进行了热烈的交流与探讨。下午，Jonathan参观了研究所展厅，深入了解了研究所历史发展，并对研究所取得的科研成果表示赞赏。 

　　到访期间，Jonathan参观了中科院光学系统先进制造技术重点实验室，副研究员罗霄具体介绍了实验室研究方向及目前的科研实验条件，双方不时交流，表达了初步的合作意向。访问结束后，Jonathan表示愿在精密加工领域进行深入的了解与合作，并邀请长春光机所科研人员赴罗彻斯特大学进行交流。 

Jonathan作报告