4月15日上午，应中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所国际实验室研究员张跃钢邀请，美国劳伦斯伯克利国家实验室教授郭晶华一行访问中科院苏州纳米所，并作了题为In Situ/operando Soft X-ray Spectroscopy Characterization of Interfacial Phenomena in Energy Materials and Devices的精彩学术报告。

　　对于能源转换、能源储存、催化、先进材料及功能器件等储能研究体系，其性能的优异程度主要取决于材料的结构，化学成分及界面相互作用。为有效理解相关反应机理进而实现能源转换和存储器件的实际应用，各式原位表征手段应运而生，而其中软X射线光谱显示出了优异的独特性。报告会上，郭晶华首先介绍了美国劳伦斯伯克利大学的学校概括，然后就软X射线光谱应用于能源材料和器件的界面原位表征技术作了报告，并和与会人员进行了深入交流，针对师生们提出的问题做了详尽的回答。

　　来访期间，郭晶华团队还参观了苏州纳米所的国际实验室，并期望能进一步加强合作与交流。

报告会现场