报告题目：固体材料中缺陷的电子显微学分析

　　报 告 人：Prof. Wuzhong Zhou

　　单　　位：University of St. Andrews, UK

　　报告时间：2016年7月13日(星期三)上午9:00

　　报告地点：应化所实验主楼四楼学术厅

　　报告人简介：周午纵，杭州人。1982年毕业于复旦大学化学系。1988年获英国剑桥大学博士学位。在剑桥大学继续工作11年后，于1999年受聘于圣安德鲁斯大学，主持电子显微镜实验室。现任职圣安德鲁斯大学化学教授。他的主要兴趣是固态材料中的微结构以及它们的形成机理。已发表学术论文300余篇。最近主要研究课题是非传统晶体生长现象以及纳米材料的微结构分析。

　　报告摘要：固体材料中的缺陷分析是电子显微学一个重要研究方向。本次报告对一些固态材料中的缺陷进行分析和讨论，涉及的材料有电子束敏感材料，如C60，分子筛，MOFs等，MnO2/碳纳米管复合物，钙钛矿中的点缺陷等。同时也讨论缺陷的观察令我们发现了逆向晶体生长的现象。 

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　　长春应化所学术委员会

　　电分析化学国家重点实验室