7月31日，中国科学院生物物理研究所研究员章新政课题组使用定量分析方法，发现降低聚焦离子束电压，可减少对冷冻切片的损伤。相关成果发表于《结构》。

在这项研究中，研究人员建立了一个定量测定离子束对细胞切片中蛋白质损伤的新方法。该方法利用断层重构，将离子束减薄切片中的蛋白质颗粒按其与上下两个表面的距离分组，并进行了三维重构，随后计算出每组蛋白质成像的平均信噪比。这一数据不仅反映了不同组中蛋白质成像的数据质量，并且定量代表了离子束对与两个表面不同距离的蛋白质的损伤程度。

研究发现，离子束在细胞切片表面50纳米深度内会造成不可忽略的损伤，其损伤程度相当于大于16电子/平方埃的辐照，而在50纳米处相当于3.5电子/平方埃的辐照。这意味着，切片厚度小于100纳米时，来自上下表面的损伤会在切片中央叠加，进而造成大于7电子/平方埃的辐照损伤。为突破损伤深度对切片最小厚度的限制，他们通过进一步研究发现，将离子束的电压降低到8kV，可以将损伤层厚度减少至30纳米以下。

该研究不仅提供了一个定性判断切片质量的工具，还为减少切片中的离子束损伤提出了方案，有助于进一步提升原位结构解析分辨率。

相关论文信息：https://doi.org/10.1016/j.str.2023.07.002

（原载于《中国科学报》 2023-08-03 第3版 综合）