10月30至31号，大口径可见光成像望远镜的液晶自适应系统关键技术科技成果鉴定会在中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室顺利召开。会上，大口径可见光成像望远镜的液晶自适应系统关键技术科技成果通过鉴定。

　　10月30日，以张广军院士为组长的测试专家组对液晶自适应系统关键技术进行了现场测试。经过讨论与质询，测试专家组通过了项目组提出的测试大纲内容及检测方法，认为该测试大纲能够体现该成果申请提出的主要技术特征、指标，检测方法切实可行。在此基础上，专家组对包括液晶校正器响应时间、衍射效率、静态补偿误差、双液晶校正器成像效果和-3dB带宽依次进行了细致检测并形成了鉴定测试意见。

　　10月31日，以龚惠兴院士为主任的鉴定专家委员会详细听取了长春光机所研究员宣丽所作的研制技术报告、张广军院士的测试报告以及曹召良研究员的查新报告。仔细审阅了提交的资料，经过现场查看、质询和充分讨论，专家组给出了鉴定意见。专家们一致认为宣丽研究员及其研究团队完成的大口径可见光成像望远镜的液晶自适应系统关键技术为我国自适应光学的发展探索出了一条新的技术途径，取得了一系列创新性成果，项目整体技术达到了国际先进水平，并有多项技术居国际领先地位。鉴定委员会一致同意“大口径可见光成像望远镜的液晶自适应系统关键技术”项目通过科技成果鉴定，并提出了一些宝贵意见和建议。

　　中科院上海技术物理研究所龚惠兴院士、中科院上海天文台朱能鸿院士、中科院理论物理研究所欧阳钟灿院士、北京航空航天大学张广军院士、暨南大学刘人怀院士以及来自总参、国家天文台、空间科学与应用研究中心、长春理工大学、太原理工大学等单位的专家学者参加了会议。会议由中科院长春分院副院长李冰主持，长春光机所所长宣明致欢迎词。长春光机所所长助理杨怀江、该所总工程师陈涛等也参加了会议。

鉴定委员会成员进行现场测试