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| 同步辐射高分辨X射线荧光谱仪调试成功(图) |
| 文章来源： | 发布时间：2003-12-24 | 【字号： 小 中 大 】 |
随着同步辐射实验技术的发展，采用高能量分辨率的X射线荧光探测技术，可以精确测定荧光发射谱线的线形和峰位，从而进行元素化学价态的研究。由于国内尚未建立此类装置，有关高水平研究工作难以开展，用户对此具有强烈需求。 在高能所知识创新经费支持下，同步辐射室于2002年开始，研制一套由多个球面聚焦晶体组成的大接收角高分辨X射线荧光谱仪。经过课题组全体成员的努力，并通过与美国布卢克海文国家同步辐射实验室和美国新泽西理工学院物理系的密切合作，成功完成谱仪的设计、加工及调试，整套谱仪的加工精度达到设计要求。在2003年10-11月同步辐射专用光期间，进行了实验测试，取得良好结果。 获得的含Mn的各种化合物价态的高分辨荧光谱表明，该套谱仪的能量分辨率优于1eV，达到当初的设计指标(设计值为1-2eV)。通过测量锰的特征发射谱线的线形和峰位的变化可以明显的区分锰元素在不同化合物中的价态变化。该结果表明这一装置将有望应用于元素的化学态分析，为BSRF增添一种新的实验手段。 |
