9月17日至18日，第四届高分辨率对地观测学术年会在美丽的东湖之滨武汉大学召开。年会以“精致为用”为主题，集中体现了高分专项“精确探测、精细处理、精准应用、精益求精”的宗旨与追求，充分代表了我国高分辨率对地观测的发展方向及战略需求。
　　本届年会由高分辨率对地观测系统重大专项管理办公室、中国科学院重大科技任务局、中国航天科技集团公司宇航部、中国航天科工集团公司空间工程部、中国测绘学会摄影测量与遥感专业委员会主办，由武汉大学、国防科技大学、中国航天科工集团第四研究院承办。来自国内外高校、科研院所、企业单位的7位院士和1200余名代表、学生参加了会议。
　　大会报告议程邀请了李德仁等4位院士以及8位国内外顶级专家作了精彩纷呈的报告。中科院电子学研究所所长、中科院院士吴一戎以特邀嘉宾身份出席此次年会，并在大会上作了《微波成像技术的新进展》特邀报告。报告主要面向高分辨率对地观测技术的发展需求，介绍了稀疏微波成像技术、三维阵列合成孔径雷达和微波光子学合成孔径雷达，分析了其中的核心关键技术，并展望了新技术未来的应用前景，现场反响热烈。  
　　为丰富年会元素，激发创新活力，提高定量化应用的水平，大会还表彰了高分无人飞行器智能感知竞赛、“航天星图杯”高分数据处理软件大赛获奖团队，以及优秀论文作者、高分青年创新基金代表。
　　为充分体现高分技术与产业创新对接，会上，航天星图科技（北京）有限公司震撼发布了高分专项重大创新产业成果——GEOVIS 5空天大数据承载与智能服务平台系列产品。发布现场高科技感十足、令人耳目一新，充分展示了高分遥感与人工智能有机融合的美好未来！
　　高分学术年会作为国内高分辨率对地观测领域的年度盛会，汇集了本领域的顶尖专家和行业用户，采用科技赛事、科普报告、大会报告和分会交流相结合的方式，持续聚焦军民融合、一带一路、成果转化等政策和技术热点，充分研讨高分新思想、新技术、新方法、新发展，有力推动了高分体制机制和技术创新以及产业升级，显著提升了专项的品牌效益。
　　中科院高分办作为年会组委会依托单位，全面承担了年会统筹、策划和组织工作，以及论文征集评奖、高分软件大赛、大会报告邀请等多个环节的具体实施工作。本届年会在组织规模、报告质量、产品发布，尤其是在版块设置等诸多方面均有很大的突破和创新。　　

大会现场